Prof. dr hab. inż. Michał Lisowski w swoich pracach naukowych zajmuje się metrologią elektryczną, niepewnością pomiarów, precyzyjnymi pomiarami wielkości elektrycznych, wzorcowaniem przyrządów pomiarowych, systemami pomiarowymi, badaniami materiałów elektrotechnicznych, a także normalizacją i prawem technicznym. Jest autorem lub współautorem ponad 130 publikacji naukowych i 9 patentów. Wykłada na Politechnice Wrocławskiej na kierunku Mechatronika „Podstawy metrologii” i „Sensory”, na kierunku Elektrotechnika „Miernictwo elektryczne”, „Czujniki i przetworniki”, „Prawo inżynierskie i normalizację”, a na studiach doktoranckich „Niepewność pomiaróW’ i „Normalizację oraz elementy prawa technicznego”.
W drugim wydaniu podręcznika Podstawy metrologii przedstawiono wnikliwie istotę pomiaru, jednostki miar i ich wzorce. Scharakteryzowano proces pomiarowy, przyrządy i systemy pomiarowe oraz ich wzorcowanie. Omówiono dokładność pomiarów, zwracając szczególną uwagę na niepewność pomiarów, której podstawy obliczania przedstawiono możliwie szczegółowo, ilustrując je wieloma przykładami. Opisano także sposób opracowywania dokumentów z pomiarów oraz omówiono podstawowe zagadnienia z metrologii prawnej. Podano również wymagania, jakie powinny spełniać akredytowane laboratoria badawcze i wzorcujące. Dla ułatwienia zrozumienia teorii niepewności pomiarów zamieszczono dodatek zawierający wyjaśnienie używanych w podręczniku podstawowych pojęć ze statystyki i rachunku prawdopodobieństwa.
Podręcznik przeznaczony jest dla studentów jako pomoc dydaktyczna do przedmiotu „Podstawy metrologii”. Będzie on również przydatny dla doktorantów i pracowników zajmujących się zawodowo metrologią oraz dla wszystkich tych, którzy wykonują pomiary i opracowują ich wyniki.
Cena: 34 zł
Wydanie II poprawione i uzupełnione • Liczba stron: 278 • Format: 170 × 240 mm • Rok wydania: 2015
ISBN 978-83-7493-906-5